工業総合研究所 技術支援部の依田毅主任研究員と横濱和彦研究管理員による研究論文
“Improving the Reproducibility of X-ray Diffraction Measurements Using a Polymer Film-Assisted Sample Preparation”
が、国際学術誌 X-Ray Spectrometry に掲載され、同誌掲載号の表紙（Cover Image）に採用されました。

本研究では、X線回折（XRD）測定における試料調製方法について、ポリマーフィルムを利用することで測定再現性を向上させる手法を検討しました。
試料調製時のばらつきを抑えることで、より安定したX線回折測定を可能とすることを示した研究成果です。

論文情報：
Tsuyoshi Yoda and Kazuhiko Yokohama, Improving the Reproducibility of X-ray Diffraction Measurements Using a Polymer Film-Assisted Sample Preparation,
X-Ray Spectrometry, 2026; 55:795-802
DOI: 10.1002/xrs.70104

表紙へのリンク　https://doi.org/10.1002/xrs.70130