XGT-9000

• 試料サイズ：200×200×60mmまで設置可能
• 分解能：100μm 
• 検出器：シリコンドリフト検出器
• 試料表面のNa～Uまでの元素（RoHS規制対象物質のCrやPbを含む）を検出できます。
• 固体・液体・粉体の試料に対応可能
• ピーク分離による異物や不良解析が可能
• 光学CCDによって計測部分のイメージに計測結果を重ねて表示するマッピング表示が可能です。

　試料にX線を照射する際に発生した特性X線を検出、解析した結果として、試料を構成する元素及び組成情報を得ることができます。本機では試料の組成比（wt％）を標準試料を用いない半定量法により算出します。計測対象となる試料に対応して、チャンバー内全体を真空にして計測を行う全真空（試料が固体）モードと、検出部周辺のみを真空状態にして計測する部分真空（試料が粉体や液体の場合）に使い分けて計測することができます。（詳細はこちら）

本体：

XGT-9000